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2024年5月7日发(作者：)

化学表征测试方案

化学成分分析的方法主要有化学分析、物理分析，其中物理分析具有不破坏

样品成分、分析区域小、以表面分析方法为主、分析速度快、灵敏度高等特点。

X射线荧光光谱（XRF）作为一种物理分析方法，在地质、冶金、电子机械、石

油、航空航天材料、生物、生态环境、商检等领域有广泛的应用。本文为读者详

细总结了X射线荧光光谱分析的基本原理及应用。

原子荧光光谱法（AFS）是1964年以后发展起来的分析方法，是以原子在

辐射能激发下发射的荧光强度进行定量分析的发射光谱分析法。本文将从原子荧

光光谱法的概述、基本原理、仪器结构与类型、样品要求、应用等多个方面进行

详细阐述，以期读者阅读后，能够对AFS有更深入的了解。

扫描电子显微镜（SEM），简称扫描电镜，是利用细聚焦电子束在样品表面

扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的一种常用的显微分析仪器。本文不

仅通过SEM的发展史、仪器结构、成像原理及特点等方面带领读者从理论方面

学习SEM的相关知识，还于文章后半部分列举大量实例，图文并茂地给读者展

现了SEM的实际应用，帮助读者将理论运用于实践中去。

X射线能谱（EDX）作为元素分析方法之一，常用于材料微区成分元素种类

与含量分析，可以分析元素周期表中从硼到铀（B-U）的所有元素信息，一般与

扫描电子显微镜和透射电子显微镜配合使用。本文详细讲解了EDX的仪器类型

及构成，更从定性定量原理以及实际应用上进行了详尽阐述，文末通过对有关

EDX的问题解答，可以让读者更加全面地了解有关EDX的知识。

扫描透射电子显微镜（STEM）是透射电子显微镜（TEM）的一种发展。近

些年，伴随球差校正器的引入，STEM的空间分辨率达到了亚埃米级，已经可以

实现单个原子柱成像观察。本文从STEM的发展史、仪器的构成及工作原理、成

像模式、实际应用等方面，非常详实地讲解了STEM的相关知识。文末介绍了

STEM的优缺点并将其与TEM、SEM的性能相比较，让读者更为客观地了解

STEM。

紫外可见漫反射光谱（UV-Vis DRS）主要是利用光在物质表面的反射来获

取物质的信息，与物质的电子结构有关，一般用于研究固体材料。UV-Vis DRS

可研究催化剂表面过渡金属离子及其配合物的结构、氧化状态、配位状态、配位

对称性；可在光催化中研究催化剂的光吸收性能；可用于色差的测定等。本文介

绍了有关UV-Vis DRS的基本原理，并列举大量实例以介绍其应用，以期为从事

相关工作的读者提供理论和实践的经验。

俄歇电子能谱（AES）是用具有一定能量的电子束（或X射线）激发样品俄

歇效应，通过检测俄歇电子的能量和强度，从而获得有关材料表面化学成分和结

构信息的方法。本文从俄歇电子能谱的基本原理、分析技术、实验操作、优缺点、

应用实例等方面，全面详尽地介绍了AES的相关知识，以期为读者提供帮助。

1、X射线衍射物相分析：

粉末X射线衍射法，除了用于对固体样品进行物相分析外，还可用来测定晶体结

构的晶胞参数、点阵型式及简单结构的原子坐标。

X射线衍射分析用于物相分析的原理是:由各衍射峰的角度位置所确定的晶面间

距d以及它们的相对强度Ilh是物质的固有特征。而每种物质都有特定的晶胞尺

寸和晶体结构，这些又都与衍射强度和衍射角有着对应关系，因此，可以根据衍

射数据来鉴别晶体结构。

2、热分析：

本文标签： 分析读者应用结构表面

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