一种手机天线辐射性能自动测试方法

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利说明书

(21)申请号 CN2.9

(22)申请日 2008.12.28

(71)申请人 中国电子科技集团公司第四十一研究所

地址 233006 安徽省蚌埠市长征路726号101信箱

(72)发明人 刘司伟 凌云志 陈向民 赵润年 王志

(74)专利代理机构 蚌埠鼎力专利商标事务所有限公司

代理人 陆淑贤

(51)

(10)申请公布号 CN 101459477 A

(43)申请公布日 2009.06.17

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

法

(57)摘要

本发明属于3G手机技术领域，涉

一种手机天线辐射性能自动测试方

及一种手机天线辐射性能的测试方法。本

发明首先测试出手机总辐射功率，根据该

总辐射功率计算出手机天线的增益，将手

机天线的增益值设为终端综合测试仪的

上、下行线损值，参考功率值设为全向灵

敏度测量的临界参考功率值，这样设置的

参考功率值将非常接近临界参考功率值，

故而能够保证在测试过程中链路不会断

开。采用本测试方法一般只需测两次就可

以找到符合要求的参考功率值，同时又可

以测得手机天线的总辐射功率，从而提高

了测试效率和测试稳定性。

法律状态

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态

权 利 要 求 说 明 书

1、一种手机天线辐射性能自动测试方法，其特征是按如下步骤进行：

(1)置手机于最大发射功率状态；

(2)从手机天线测试装置的频谱分析模块读取最大功率测量结果，并计算手机实际

发射的最大功率与预期测量结果之间的差值ΔP；

(3)若手机实际发射的最大功率与预期测量结果之间的差值ΔP大于预期总辐射功率

误差值，调整手机天线测试装置的上、下行线路损耗，继续步骤(2)、步骤(3)，直

到手机实际发射的最大功率与预期测量结果之间的差值ΔP小于预期总辐射功率误

差值，否则直接进入下一步；

(4)将手机天线测试装置的参考功率值设为总全向灵敏度测试的参考功率值；

(5)测试手机的误码率，判断误码率是否超过全向灵敏度测试误差值(0.001)；

(6)若误码率小于全向灵敏度测试误差值，减小参考功率值，否则增大参考功率值；

重复步骤(5)和骤(6)，直至找到误码率等于全向灵敏度测试误差值的测试功率点，

由手机天线测试装置的数据处理单元计算总全向灵敏度。

说 明 书

技术领域

本发明属于3G手机技术领域，涉及一种手机天线辐射性能的测试方法。

背景技术

手机天线的辐射性能直接影响着通信质量，快速、准确地测试其辐射性能具有十分

重要的意义。CTIA(Cellular Telecommunications & InternetAssociation)标准指出

总辐射功率TRP和总全向灵敏度TIS是有效地衡量手机天线性能的两个重要指标。

其中总辐射功率TRP可以全面衡量手机的发射情况，总全向灵敏度TIS可以全面

衡量手机的接收性能。总辐射功率TRP的计算公式为：

式(1)中，θ和φ，是球坐标系的坐标值，其取值范围为0°≤θ≤180°、0°≤φ≤360°。N

和M分别为θ和φ方向的取样点数。EiRPθ和EiRPφ是天线的θ和φ极化方向的

EiRP。EiRP是天线输入功率(P)和该天线增益(G)的乘积，即

EIRP＝P*G (2)

TIS的计算公式为：

式(3)中，EIS是有效等方向灵敏度，此值可由TD-SCDMA终端综测仪测出。N、

M、θ和φ与式(1)中的含义相同。

为了测试手机总辐射功率TRP和总全向灵敏度TIS，只需测试天线输入功率和手

机接收参考灵敏度。利用综测仪测试手机发射功率相对比较简单，但是现有技术中

在测试手机接收参考灵敏度时，手机容易断链，对于2G手机很容易就可以重新建

立链接，但对于3G手机在测量全向灵敏度过程中，链路一旦断开就很难重新连上，

要重新链接就需要重新开手机，故而现有技术中测试手机天线辐射性能的方法在测

试3G手机时效率较低，不利于测试。

发明内容

本发明的目的是提供一种快速、准确的测试手机天线辐射性能的方法，该测试方法

既保证在测试时不会断链，又提高了测试效率。

本发明所提供的测试手机天线辐射性能的方法，按如下步骤进行：

(1)置手机于最大发射功率状态；

(2)从手机天线测试装置的频谱分析模块读取最大功率测量结果，并计算手机实际

发射的最大功率与预期测量结果之间的差值ΔP；

(3)若手机实际发射的最大功率与预期测量结果之间的差值ΔP大于预期总辐射功率

误差值，调整手机天线测试装置的上、下行线路损耗，继续步骤(2)、步骤(3)，直

到手机实际发射的最大功率与预期测量结果之间的差值ΔP小于预期总辐射功率误

差值，否则直接进入下一步；

(4)将手机天线测试装置的参考功率值设为总全向灵敏度测试的参考功率值；

(5)测试手机的误码率，判断误码率是否超过全向灵敏度测试误差值(0.001)；

(6)若误码率小于全向灵敏度测试误差值，减小参考功率值，否则增大参考功率值；

重复步骤(5)和骤(6)，直至找到误码率等于全向灵敏度测试误差值的测试功率点，

由手机天线测试装置的数据处理单元计算总全向灵敏度。

本发明所提供手机天线辐射性能测试方法的原理是：首先测试出手机总辐射功率，

根据该总辐射功率计算出手机天线的增益，将手机天线的增益值设为终端综合测试

仪的上、下行线损值，参考功率值设为全向灵敏度测量的临界参考功率值，这样设

置的参考功率值将非常接近临界参考功率值，故而能够保证在测试过程中链路不会

断开。采用本测试方法一般只需测两次就可以找到符合要求的参考功率值，同时又

可以测得手机天线的总辐射功率，从而提高了测试效率和测试稳定性。

本发明的有益效果是，可以在保证链路不断开情况下快速、准确测试出3G手机的

总辐射功率和总全向灵敏度，正确评价手机天线的辐射性能，提高手机天线的生产

效率。

附图说明

图1是手机天线辐射测试硬件连接原理示意图；

图2是手机天线辐射性能测试流程图；

图3是手机天线辐射性能图。

具体实施方式

下面结合附图，来说明本发明的手机天线辐射性能自动测试方法的实施。图1是手

机天线辐射测试硬件连接原理示意图。AV4943是一种TD综合测试仪表，可以测

试被测终端(手机)的射频指标。被测终端放在暗室中的转台上，AV4943综测仪通

过暗室内的天线发射或接收信号与手机进行通信，从而测量总辐射功率TRP和总

全向灵敏度TIS。图2是手机天线辐射性能测试流程图。按照图2的流程图即可实

施本发明所提供的手机天线辐射性能自动测试方法。由图2可知：本发明所采用的

方法步骤如下：

(1)置手机于最大发射功率状态；

(2)从手机天线测试装置的频谱分析模块读取最大功率测量结果，并计算手机实际

发射的最大功率与预期测量结果之间的差值ΔP；

(3)若手机实际发射的最大功率与预期测量结果之间的差值ΔP大于预期总辐射功率

误差值(可设为1)，调整手机天线测试装置的上、下行线路损耗，继续步骤(2)、步

骤(3)，直到手机实际发射的最大功率与预期测量结果之间的差值ΔP小于预期总辐

射功率误差值，否则直接进入下一步；

(4)将手机天线测试装置的参考功率值设为总全向灵敏度测试的参考功率值(该值根

据具体手机的最小灵敏度参考电平临界值而定，一般取-108dBm)；

(5)测试手机的误码率，判断误码率是否超过全向灵敏度测试误差值(0.001)；

(6)若误码率小于全向灵敏度测试误差值，减小参考功率值，否则增大参考功率值；

重复步骤(5)和骤(6)，直至找到误码率等于全向灵敏度测试误差值的测试功率点，

由手机天线测试装置的数据处理单元计算总全向灵敏度。

图3是采用本发明所提供手机天线辐射性能自动测试方法得到的手机天线辐射性能

图。该图所示的图形比较规则，所测试的手机天线辐射性能符合要求。