阵列基板及具有所述阵列基板的主基板和液晶显示装置

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利说明书

(21)申请号 CN2.8

(22)申请日 2005.08.12

(71)申请人 三星电子株式会社

地址 韩国京畿道

(72)发明人 金东奎

(74)专利代理机构 北京市柳沈律师事务所

代理人 陶凤波

(51)

G02F1/1333

G02F1/136

(10)申请公布号 CN 1734322 A

(43)申请公布日 2006.02.15

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

阵列基板及具有所述阵列基板的主

基板和液晶显示装置

(57)摘要

一种阵列基板，其包括：一基板，

位于所述基板上的多根数据线，位于所述

基板上的多根扫描线，位于所述基板上的

像素电极，位于所述基板上的屏蔽公共电

极，位于所述基板上的数据测试部分，和

位于所述基板上的屏蔽公共电极焊盘。所

述像素电极位于由彼此相邻的数据线和扫

描线界定的区域内。所述屏蔽公共电极围

绕所述像素电极。所述数据测试部分将数

据测试电压施加到所述数据线上。将具有

不同于所述测试数据电压的电平的屏蔽公

共电压通过屏蔽公共电极焊盘施加到所述

屏蔽公共电极上。

法律状态

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态

权 利 要 求 说 明 书

1.一种阵列基板，其包括：

基板，其包括：

界定形成像素电极的区域的多根数据线和扫描线，以及围绕所述像素电极的屏蔽公

共电极；

向所述数据线施加测试数据电压的数据测试器；以及

向所述屏蔽公共电极施加具有不同于所述测试数据电压的电压电平的屏蔽公共电压

的屏蔽公共电极。

2.如权利要求1所述的阵列基板，其中所述屏蔽公共电极形成于与所述数据线和扫

描线对应的基板区的一区域中，并且具有矩阵外形。

3.如权利要求1所述的阵列基板，其中，所述屏蔽公共电极形成于基板上对应于所

述数据线的区域上。

4.如权利要求1所述的阵列基板，其中，所述数据测试部分包括：

接收多个测试数据电压的多个焊盘；以及

多根分别与所述焊盘连接的线。

5.如权利要求1所述的阵列基板，其进一步包括：

将测试公共电压施加到与所述像素电极相对应的反电极的公共电极焊盘。

6.如权利要求1所述的阵列基板，其进一步包括：

将测试扫描电压施加到所述扫描线上的扫描测试器，所述扫描测试器包括：

将多个测试扫描电压施加到所述扫描线上的多个焊盘；以及

多根分别与所述焊盘连接的线。

7.一种主基板，其包括：

阵列基板，包括一基板，该基板具有在多根数据线和扫描线界定的区域内提供的像

素电极和围绕所述像素电极的屏蔽公共电极；

向所述数据线施加测试数据电压的数据测试器；以及

向屏蔽公共电极施加测试屏蔽公共电压的屏蔽公共电极焊盘。

8.如权利要求7所述的主基板，其中，所述数据测试部分包括：

将多个测试数据电压施加到所述数据线上的多个焊盘；以及

多根分别与所述焊盘连接的线。

9.如权利要求7所述的主基板，其进一步包括：

将测试扫描电压施加到扫描线上的扫描测试器，所述扫描测试器包括：

施加多个测试扫描电压的多个焊盘；以及

多根分别与所述焊盘连接的线。

10.如权利要求7所述的主基板，其进一步包括：

包括所述像素电极的显示区域；以及

围绕所述显示区域，并包括所述数据测试器和屏蔽公共电极焊盘的外围区域。

11.如权利要求7所述的主基板，其进一步包括：

与所述数据线和扫描线相连接的存储电容器；以及

将测试存储公共电压施加到所述存储电容器的公共电极上的存储公共电极焊盘。

12.如权利要求7所述的主基板，其中，所述像素电极包括：

沿预定方向延伸的开口。

13.如权利要求12所述的主基板，其中，所述开口围绕所述像素电极的中线基本对

称，所述像素电极的中线基本平行于所述扫描线。

14.一种液晶显示装置，其包括：

显示屏板，包括开关元件、液晶电容器、存储电容器、像素电极、和围绕所述像素

电极的屏蔽公共电极；

向所述显示屏板施加驱动信号的驱动器；以及

向所述液晶电容器施加公共电压并向所述屏蔽公共电极施加屏蔽公共电压的驱动电

压发生器。

15.如权利要求14所述的液晶显示装置，其中，所述驱动电压发生器向所述存储电

容器施加存储公共电压。

16.如权利要求14所述的液晶显示装置，其中，所述驱动器包括：

将扫描电压施加到所述开关元件的控制电极上的扫描驱动器；以及

将数据电压施加到所述开关元件的源/漏电极上的数据驱动器。

17.如权利要求14所述的液晶显示装置，其中，所述屏蔽公共电压基本上与所述公

共电压相等，并且

其中，将所述屏蔽公共电压和公共电压分别独立地施加到屏蔽公共电极和液晶电容

器上。

18.如权利要求14所述的液晶显示装置，其中，所述驱动部分包括多个驱动芯片，

并且

其中，所述显示屏板包括与所述驱动芯片接触的多个接触焊盘和与所述驱动芯片断

开的伪焊盘。

19.如权利要求18所述的液晶显示装置，其中，通过所述伪焊盘将所述屏蔽公共电

压施加到所述屏蔽公共电极上。

20.如权利要求18所述的液晶显示装置，其中，所述显示屏板包括多个将所述屏蔽

公共电压施加到所述屏蔽公共电极上的伪焊盘。

说 明 书

技术领域

本发明涉及阵列基板(array substrate)，具有阵列基板的主基板(mainsubstrate)和具有

阵列基板的液晶显示(LCD)装置。更具体地，本发明涉及能够提高成品率的阵列基

板，具有所述阵列基板的主基板和具有所述阵列基板的液晶显示(LCD)装置。

背景技术

LCD屏板包括阵列基板、滤色器基板和液晶层。滤色器基板对应于阵列基板。在

所述阵列基板和滤色器基板之间插入液晶层。所述阵列基板包括像素区域和施加数

据信号和扫描信号的信号施加区域。

在像素区域中提供数据线、扫描线和像素电极。数据线沿第一方向延伸。所述扫描

线沿大致垂直于第一方向的第二方向延伸，并与所述数据线交叉。所述像素电极连

接至扫描线和数据线。第一驱动芯片焊盘(pad)和第二驱动芯片焊盘位于所述信号

施加区域中。在第一驱动芯片焊盘上形成施加数据信号的第一驱动芯片。施加扫描

信号的第二驱动芯片位于所述第二驱动芯片焊盘上。

在主基板上形成多个阵列基板时，对所述阵列基板进行测试，以确定阵列基板行

(lines of the array substrates)的运转。之后，在每一阵列基板和滤色器基板之间插入

液晶层。之后进行目测检查(V/I)过程，以测试LCD屏板的电运行和光运行。在阵

列基板的测试和V/I过程中，将多个数据线和多个扫描线分成多个组，采用测试信

号对每个组进行测试。

所述测试是复杂的，并且包含很多过程。如此复杂、耗时的测试降低了阵列基板的

成品率。

发明内容

本发明提供了能够提高成品率的阵列基板。

本发明还提供了具有上述阵列基板的主基板。

本发明还提供了具有上述阵列基板的液晶显示(LCD)装置。

在下述说明中，将阐述本发明的其他特征，这些特征在经说明之后，在某种程度上

是显而易见的，或者可以通过对本发明的实践习知。

本发明公开了一种阵列基板，其包括：一基板，其具有界定形成像素电极的区域的

多条数据线和扫描线，以及环绕所述像素电极的屏蔽公共电极；向数据线施加测试

数据电压的数据测试器；向屏蔽公共电极施加具有不同于测试数据电压的电压电平

的屏蔽公共电压的屏蔽公共电极焊盘。

本发明还公开了一主基板，其包括：阵列基板，其包括在多根数据线和扫描线界定

的区域内提供的像素电极和围绕所述像素电极的屏蔽公共电极；向数据线施加测试

数据电压的数据测试器；以及向屏蔽公共电极上施加测试屏蔽公共电压的屏蔽公共

电极焊盘。

本发明还公开了一种液晶显示装置，其包括：包括开关元件的显示屏板；液晶电容

器；存储电容器；像素电极和围绕所述像素电极的屏蔽公共电极；向所述显示屏板

施加驱动信号的驱动器；以及向所述液晶电容器上施加公共电压，向所述屏蔽公共

电极上施加屏蔽公共电压的驱动电压发生器。

应当理解的是，上述一般性说明以及下述详细说明均为示范性和说明性的，其意图

在于为权利要求所限定的发明提供进一步的解释。

附图说明

这里给出了为本发明提供进一步理解的附图，其构成了本说明书的一部分，并连同

说明一起对本发明的实施例进行了举例说明，从而对本发明的原理予以解释。

图1是根据本发明的实施例的阵列基板的平面图。

图2是图1中所示的像素的分解透视图。

图3是沿图1中所示的I-I′线得到的横截面图；

图4是具有如图1所示的阵列基板的主基板的平面图。

图5是说明图4中所示的采用了阵列测试部件的主基板上执行测试操作的平面图。

图6是具有如图1所示的阵列基板的LCD屏板的平面图。

图7是在图6中所示的采用了V/I测试部件的LCD屏板上执行V/I测试操作的平面

图。

图8是具有图7所示的LCD屏板的LCD装置的方框图。

图9A和图9B是图8所示的焊盘的平面图。

具体实施方式

应当理解的是，在不背离本说明书公开的发明原理的情况下，可以采取多种方式对

下文所述的本发明的示范性实施例加以改变。本发明的范围不仅限于下述实施例。

相反地，提供这些实施例的目的在于使本说明书能够向本领域技术人员传达本发明

的原理，但本发明的原理不仅限于此。

在下文中，将参照附图对本发明予以说明。

图1是根据本发明的实施例的阵列基板的平面图。图2是图1中所示的像素的分解

透视图。

参照图1和图2，阵列基板100包括：多根数据线DL，多根扫描线SL，和具有第

一像素P1和第二像素P2的多个像素。可以具有n个数据线DL。可以具有m个扫

描线。可以具有n×m个像素。每个像素包括开关元件110，存储电容器130和像素

部分150。

开关元件110包括控制电极111，作为源电极的第一开关电极113和作为漏电极的

第二开关电极115。控制电极111连接至沿第一方向延伸的扫描线SL中的一个。

第一开关电极连接至沿基本垂直于第一方向的第二方向延伸的数据线DL中的一个。

第二开关电极115连接至像素电极152中的一个。在控制电极111、第一开关电极

113和第二开关电极115之间提供半导体层112。

存储电容器130包括第一存储电极132和第二储存电极134。第二存储电极134可

以是存储公共电极。第一存储电极132可以与数据线DL之一连接。第二存储电极

134可以与扫描线SL之一连接。

像素部分150包括像素电极152和屏蔽公共电极154。根据本发明的实施例，像素

电极152为液晶电容器CLC的第一电极，其包括沿预定方向延伸的第一开口图案。

第一开口图案可以相对于像素电极152的中线形成大约45度角，所述中线大致平

行于扫描线SL。根据上述实施例，第一开口图案相对于所述中线对称。

与阵列基板100对应的滤色器基板包括一公共电极。所述公共电极可以是液晶电容

器CLC的第二电极。所述公共电极可以包括沿预定方向延伸的第二开口图案。根

据本发明的实施例，第二开口图案相对于像素电极152的中线形成大约45度角。

经过对准，使所述第二开口图案围绕中线对称。此外，可以与第一开口图案交替布

置第二开口图案，使得第二开口图案与第一开口图案不相交叠。

在上述实施例中，阵列基板100和滤色器基板形成了图案化垂直配向(PVA)模式的

LCD装置，所述模式增大了LCD装置的视角。第一开口图案和第二开口图案使液

晶电容器CLC中形成的电场变形，以增大所述LCD装置的视角。

屏蔽公共电极154可以由与像素电极152相同的层形成。屏蔽公共电极154围绕像

素电极152，并具有类似矩阵的外形。没有电压从数据线DL施加到像素152上。

例如，屏蔽公共电极154防止电压从数据线DL施加到像素电极152上。相邻像素

电极152通过屏蔽公共电极彼此隔开，从而在像素电极152之间提供黑矩阵

(black matrix)，所述黑矩阵152减少了光的泄漏。

可以在开关元件110和像素部分150之间形成有机绝缘层140。

图3是沿图1中所示的I-I′线得到的横截面图；

参照图2和图3，LCD屏板包括阵列基板100、滤色器基板600和液晶层500。

数据线DL之一位于位置上彼此相邻的第一像素P1和第二像素P2之间。第一像素

P1和第二像素P2中的每一个均包括开关元件150和存储电容器130。根据本发明

的实施例，所述开关元件150可以是薄膜晶体管。

控制电极111可以由形成于第一透明板101上的栅极金属层形成。所述栅极金属层

是由铝、铜等金属形成的。控制电极111、扫描线SL和第二存储电极134是由栅

极金属层形成的。

在具有控制电极111、扫描线SL和第二存储电极134的第一透明板101上形成栅

极绝缘层(未示出)。可以采用氮化硅、氧化硅等绝缘材料形成栅极绝缘层(未示出)。

在栅极绝缘层(未示出)上形成可以包括有源层和欧姆接触层的半导体层112。

在具有半导体层112的栅极绝缘层(未示出)上形成源极/漏极金属层。对源极/漏极

金属层构图以形成第一开关电极113、第二开关电极115、数据线DL和第一存储

电极132。可以在所述栅极绝缘层(未示出)上形成钝化层102。可以在钝化层102

上形成绝缘层104，但是，应当理解，可以省略绝缘层104。

绝缘层104可以包括氮化硅、氧化硅等无机绝缘材料，和丙烯酸树脂、聚四氟乙烯、

苯并环丁烯(BCB)、全氟化聚合物(cytop)、八氟环丁烷(PFCB)等有机绝缘材料。绝

缘层104应当具有低介电常数。可以在钝化层102和绝缘层104中形成接触孔160，

使得第二开关电极115通过接触孔160露出。

可以在绝缘层104上形成透明导电层。透明导电层可以包括氧化铟锡(ITO)、氧化

铟锌(IZO)、氧化铟锡锌(ITZO)等透明导电材料。可以对透明导电层构图以形成像

素电极152和屏蔽公共电极154。所暴露的第二开关电极115与具有透明导电材料

的像素电极152连接。

屏蔽公共电极154围绕像素电极152。屏蔽公共电极比数据线DL中的每一个都宽。

屏蔽公共电极154可以具有类似矩阵的外形。

滤色器基板600包括第二透明板601，黑矩阵610，滤色器620，外敷层630和公

共电极640。滤色器基板600可以与阵列基板100连接，以容纳液晶层500。可以

形成于第二透明板601上的黑矩阵610阻挡了像素之间光的泄漏。黑矩阵610可以

对应于数据线DL或扫描线SL。或者，黑矩阵610可以既对应数据线DL又对应扫

描线SL。

滤色器620可以包括红滤色器部分621，绿滤色器部分622和蓝滤色器部分(未示

出)。在黑矩阵610界定的区域内提供滤色器620。例如，红滤色器部分621对应于

第一像素P1，绿滤色器部分622对应于第二像素P2。

在滤色器620上形成外敷层630，从而使具有黑矩阵610和滤色器620的第二透明

板601的表面平坦。可以形成于外敷层630上的公共电极640接收提供至滤色器基

板600的公共电压。所述公共电极640是液晶电容器CLC的公共电极。

液晶层500的正常模式为黑色。在通过数据线中的一个和公共电极640向像素电极

152施加电压时，位于液晶层500中的液晶的分布或指向随施加到其上的电场而变

化或改变，因此，液晶层500的透光率发生变化，从而显示图像。

在滤色器基板600的公共电极640和阵列基板100的屏蔽公共电极154上施加参考

公共电压OV。位于公共电极640和屏蔽公共电极154之间的液晶层的分布不发生

改变，因此，在屏蔽公共电极154上仍然显示黑色。根据这种分布，光不会从屏蔽

公共电极154泄漏。

图4是具有如图1所示的阵列基板的主基板的平面图。

参照图4，主基板200包括：第一短路棒(shorting bar)211，第二短路棒212，割线

(cutting line)215，第一阵列测试部分220和第二阵列测试部分230。

第一短路棒211可以沿第二方向延伸，并连接沿第一方向延伸的数据线DL的末端

部分。第一短路棒211阻挡可能从主基板200外部的源提供的静电电荷。例如，第

一短路棒211可以为单根线。

第二短路棒212可以沿第一方向延伸，并连接可以沿第二方向延伸的扫描线SL的

末端部分。第二短路棒212阻挡可能从主基板200外部的源提供的静电电荷。例如，

第二短路棒212可以为单根线。

割线215界定了位于主基板上的多个显示单元。每一显示单元与阵列基板100中的

一个对应。数据线DL、扫描线SL和开关元件110与数据线DL、扫描线SL、存

储电容器CST以及像素部分150连接，并且形成于每个显示单元上。

第一阵列测试部分220包括数据阵列焊盘221、数据阵列线222、存储公共电极焊

盘223和屏蔽公共电极焊盘224。

根据本发明的实施例，数据阵列焊盘221为1D型。在1D类型中，将单个测试信

号公共地施加到数据线DL上。数据阵列线222与数据线DL连接，因此，可以通

过数据阵列线222向数据线DL施加测试信号。或者，数据阵列焊盘221可以为

2D型，3D型，……型，从而将多个测试信号施加到多组数据线DL上。

可以通过存储公共电极焊盘223向第二存储电极134施加存储公共电压VST。

可以通过屏蔽公共电极焊盘224或通过多个屏蔽电极焊盘281向屏蔽公共电极154

施加屏蔽从公共电压VSCOM。可以向第一短路棒211施加测试信号，以测试阵列

基板100。

第二阵列测试部分230包括第一扫描阵列焊盘231、第二扫描阵列焊盘232、第一

扫描阵列线233和第二扫描阵列线234。在2G操作中，可以通过第一扫描阵列焊

盘231和第一扫描阵列线233向编号为奇数的扫描线SL施加第一测试信号，通过

第二扫描阵列焊盘232和第二扫描阵列线234向编号为偶数的扫描线SL施加第二

测试信号，或者反过来。根据本发明的实施例，第一阵列测试部分220可以包括存

储公共电极焊盘223和屏蔽公共电极焊盘224。或者，第一阵列测试部分230可以

包括存储公共电极焊盘223和屏蔽公共电极焊盘224。

在采用第二短路棒212测试栅极线GL时，打开位于所述第一扫描阵列线233和第

二阵列扫描线234之间的每一扫描行SL的一部分，使得第二短路棒212与第一阵

列扫描线233和第二扫描阵列线234断开。

图5是说明在图4中所示的采用了阵列测试部件的主基板上执行测试操作的平面图。

通过第一阵列测试部分220和第二阵列测试部分230向阵列基板100施加测试信号，

从而实现对显示单元的检测。

参照图5，向第一数据阵列焊盘221施加数据电压D，向屏蔽公共电极焊盘224施

加屏蔽公共电压VSCOM。屏蔽公共电压VSCOM具有与数据电压D不同的电压电

平。向与屏蔽公共电极焊盘224断开的存储公共电极焊盘施加存储公共电压。

向与编号为奇数的扫描线SL相连接的第一扫描阵列焊盘231施加第一扫描信号S0，

向与编号为偶数的扫描线SL相连接的第二扫描阵列焊盘232施加第二扫描信号SE。

施加到第一数据阵列焊盘221上的数据电压D为正。例如，在1D类型中，向所有

的数据线DL施加数据电压D。可以向屏蔽公共电极焊盘224施加参考公共电压

OV。参考公共电压OV具有与数据电压D不同的电压电平。

检查与每一像素电极152对应的输出电压，以检测故障像素PE1。

可以由相同的层形成屏蔽公共电极154和像素电极152。每一屏蔽公共电极154与

每一像素电极152相距大约5到大约10μm的距离，因此，在屏蔽公共电极154和

像素电极152之间可能会通过颗粒、灰尘等发生短路。

在屏蔽公共电极154和像素电极152之间发生短路时，像素电极152的电压电平发

生改变，从而可以检测出故障的像素PE1。例如，检测施加到像素电极152和屏蔽

公共电极154上的电压总和。根据本发明的实施例，电压之和极性为负。

屏蔽公共电压VSCOM具有与数据电压D不同的电压电平，并施加到屏蔽公共电

极154上，以便对主基板200的显示单元进行检测。应当理解的是，也可以采用其

他方法对主基板200的显示单元予以检测，例如2D方法，3D方法等。

图6是具有如图1所示的阵列基板的LCD屏板的平面图。

参照图6，LCD屏板300包括阵列基板310、滤色器基板350、插入在阵列基板

310和滤色器基板350之间的液晶层(未示出)。

阵列基板310位于主基板200(图4所示)的每一显示单元上。阵列基板310包括像

素区、第一驱动芯片焊盘321、第二驱动芯片焊盘322、第一V/I测试部分，和第

二V/I测试部分。所述像素区包括多个沿第一方向延伸的数据线DL，多个沿第二

方向延伸的扫描线SL，与所述数据线和扫描线连接的多个开关单元，作为液晶电

容器CLC的第一电极的多个像素电极，以及多个存储电容器CST。

第一驱动芯片焊盘321是与数据驱动芯片的凸起或突出部分接触的接触端子，使得

第一驱动芯片焊盘321与一组数据线DL连接。第二驱动芯片焊盘322是与扫描驱

动芯片的凸起或突出部分接触的接触端子，使得第二驱动芯片焊盘322与一组扫描

线DL连接。

第一V/I测试部分包括数据V/I焊盘331、数据V/I线332、存储公共电极焊盘333

和屏蔽公共电极焊盘334。根据本发明的实施例，可以有三个数据V/I焊盘331和

三条数据V/I线332。每一数据V/I焊盘331通过每一数据V/I线332与第3n-2数

据线、3n-1数据线或3n数据线连接。可以通过存储公共电极焊盘343将存储公共

电压VST施加到存储电容器的第一存储电极上。可以通过屏蔽公共电极焊盘334

向屏蔽公共电极施加屏蔽公共电压VSCOM。阵列基板300可以包括多个屏蔽公共

电极焊盘334。

第二V/I测试部分包括扫描V/I焊盘341和扫描V/I线342。根据本发明的实施例，

可以有两个扫描V/I焊盘341和两个扫描V/I线342。每一扫描V/I焊盘341可以

通过每一扫描V/I线342与第2n-1扫描线或2n扫描线连接。

图7是在图6中所示的采用了V/I测试部件的LCD屏板上执行V/I测试操作的平面

图。在V/I测试操作中，向LCD屏板上施加测试信号，以检查LCD屏板上显示的

图像。通过V/I测试操作对LCD屏板的电操作和光操作进行测试。

参照图7，分别向第一数据V/I焊盘331R、第二数据V/I焊盘331G和第三数据V/I

焊盘331B施加第一数据电压DR、第二数据电压DG和第三数据电压DB，向屏蔽

公共电极焊盘334施加屏蔽公共电压VSCOM。屏蔽公共电压VSCOM具有不同于

第一数据电压DR、第二数据电压DG和第三数据电压DB的电压电平。

可以将存储公共电压VST施加到与存储电容器CST的公共电极相连接的存储公共

电极焊盘上。向与液晶电容器CLC的公共电极相连接的公共电极焊盘上施加公共

电压VCOM。滤色器基板可以进一步包括公共电极。根据本发明的实施例，将测

试信号独立地施加到屏蔽公共电极焊盘、存储公共电极焊盘和公共电极焊盘上。

可以将不同的测试信号施加到屏蔽公共电极焊盘、存储公共电极焊盘和公共电极焊

盘上。

可以将第一扫描信号S0施加到与编号为奇数的扫描线SL相连接的第一扫描V/I焊

盘341上，将第二扫描信号SE施加到与编号为偶数的扫描线SL相连接的第二扫

描V/I焊盘342上。

将第一、第二和第三数据电压DR、DG和DB分别施加到第一、第二和第三数据

V/I焊盘331R、331G和331B上。例如，在3D类型中，可以将第一数据电压DR

施加到第3n-1数据线上。可以将第二数据电压DG施加到第3n-2数据线上。可以

将第三数据电压DB施加到第3n数据线上。可以同时或按顺序将第一、第二和第

三数据电压DR、DG和DB施加到第3n-1、3n-2和3n数据线上。

将不同于第一数据电压DR、第二数据电压DG和第三数据电压DB的电压电平的

测试电压施加到屏蔽公共电极焊盘334上。测试电压可以是参考电压。

例如，在将第二数据电压DG施加到第3n-2数据线时，将第二数据电压DG施加

到与第3n-2条数据线相连接的像素电极的一部分上，使得在接收第二数据电压DG

的像素电极和接收基准电压的滤色器基板的公共电极之间形成电压差。液晶层中液

晶的排列和指向随着由电压差形成的电场的变化而变化，因此，其透光率可以发生

改变，从而显示绿色图像。

在与第3n-2条数据线相连接的像素之一不显示绿色图像时，确定所述这一像素为

故障像素PE2。故障像素PE2可能是由像素电极和屏蔽公共电极之间，或相邻像

素电极之间发生短路而造成的。

图8是具有图7所示的LCD屏板的LCD装置的方框图。

参照图8，LCD装置包括定时控制器410、数据驱动器420、扫描驱动器430、驱

动电压发生器440和LCD屏板450。

定时控制器410基于控制信号控制数据驱动器420、扫描驱动器430和驱动电压发

生器440。可以由外部图形控制器(未示出)提供所述控制信号。

定时控制器410可以将水平开始信号STH、反相信号RVS、负载信号TP等施加到

数据驱动器130上。定时控制器410可以将扫描开始信号STV、时钟信号CK、输

出使能信号(output enable signal)OE等施加到扫描驱动器430上。定时控制器410

可以将时钟信号CK、反相信号RVS等施加到驱动电压发生器440上。

定时控制器410对从外部提供给数据驱动器420的数据信号进行处理和传输。

数据驱动器420包括多个数据驱动芯片421，每一数据驱动芯片421处理从定时控

制器410接收的数据信号。每一数据驱动芯片421基于从定时控制器410提供的控

制信号将数据信号转换成模拟信号。向LCD屏板450的数据线施加模拟信号。

扫描驱动器430包括多个扫描驱动芯片431，并基于从定时控制器410提供的控制

信号向LCD屏板450的扫描线输出扫描信号。

驱动电压发生器440生成扫描电压VON和VOFF、公共电压VCOM、屏蔽公共电

压VSCOM和存储公共电压VST。将扫描电压VON和VOFF提供给扫描驱动部分

430。将公共电压VCOM、屏蔽公共电压VSCOM和存储公共电压VST提供给

LCD屏板450。

可以将存储公共电压VST施加到存储电容器CST的电极上。可以将公共电压

VCOM施加到液晶电容器CLC的公共电极上。将屏蔽公共电压VSCOM施加到环

绕像素电极、并具有类似矩阵或阵列的外形的屏蔽公共电极上。

屏蔽公共电压VSCOM具有与公共电压VCOM大致相等的电压电平。根据本发明

的实施例，屏蔽公共电压VSCOM和公共电压VCOM可以独立地施加到屏蔽公共

电极和公共电极上。

屏蔽公共电极覆盖每一数据线，从而可以在屏蔽公共电极和数据线之间形成电容器。

可以分别将屏蔽公共电压VSCOM和公共电压VCOM独立地施加到屏板公共电极

和公共电极上，以防止液晶层中的液晶变形。尽管数据电压与公共电压VCOM不

同，但是屏蔽公共电压VSCOM的电平不会失真。

屏蔽公共电压VSCOM与公共电压VCOM大致相等，从而使屏蔽公共电极和公共

电极之间地液晶层的正常显示模式为黑色。例如，屏蔽公共电极屏蔽了数据电压，

从而在相邻像素之间通过屏蔽公共电极显示出黑色。

根据本发明的上述实施例，存储公共电压VST可以和屏蔽公共电压VSCOM大致

相等。但是，应当理解的是，存储公共电压VST可以与屏蔽公共电压VSCOM不

同。

LCD屏板450包括阵列基板、滤色器基板和在所述阵列基板和滤色器基板之间提

供的液晶。具体来讲，所述阵列基板可以包括显示区域和外围区域。所述显示区域

包括在显示区域内形成的多个数据线DL、多个扫描线SL和多个像素。数据线DL

与扫描线SL相交叉。由彼此相邻的数据线DL和扫描线SL界定像素。每一像素

包括由薄膜晶体管TFT构成的开关元件、液晶电容器CLC、存储电容器CST和围

绕所述像素并具有矩阵外形的屏蔽公共电极(未示出)。

在阵列基板的外围区域中提供数据驱动芯片421和扫描驱动芯片431。数据驱动芯

片421向数据线施加数据信号，扫描驱动芯片431向扫描线施加扫描信号。可以采

用在阵列基板上形成的焊盘在所述阵列基板上安装或形成数据驱动芯片421和扫描

驱动芯片431。或者，可以采用柔性印刷电路板(FPCB)在阵列基板上安装或形成数

据驱动芯片421和扫描驱动芯片431。所述焊盘可以包括与数据驱动芯片421和扫

描驱动芯片431接触的接触焊盘和伪焊盘。所述伪焊盘与数据驱动芯片421和扫描

驱动芯片431电切断。可以通过伪焊盘将屏蔽公共电压VSCOM施加到LCD屏板

450的屏蔽公共电极上。

图9A和图9B是图8所示的焊盘的平面图。图9A是说明在LCD屏板上直接安装

或提供驱动芯片的平面图。

参照图8和9A，所述LCD屏板450包括焊盘，在所述焊盘上提供了所述数据驱动

芯片421和扫描驱动芯片431之一。所述焊盘包括与驱动芯片的凸起或突出部分接

触的接触焊盘511a，以及与驱动芯片的凸起电切断的伪焊盘511b。通过伪焊盘

511b向屏蔽公共电极施加屏蔽公共电压VSCOM。

图9B是说明通过FPCB在LCD屏板上安装或提供的驱动芯片的平面图。

参照图8和图9B，LCD屏板450包括在其上安装或提供了FPCB 520的焊盘。所

述焊盘包括通过FPCB 520与FPCB 520上提供的驱动芯片521连接的接触焊盘

521a，和与接触焊盘521a电切断的伪焊盘521b。可以通过伪焊盘521b和

FPCB 520将屏蔽公共电压VSCOM施加到屏蔽公共电极上。

可以通过伪焊盘将屏蔽公共电压VSCOM施加到屏蔽公共电极上，以减少导电通

路的电阻，通过所述导电通路施加屏蔽公共电压VSCOM。所述导电通路可以包括

驱动电压发生部分、伪焊盘和屏蔽公共电极。

可以在FPCB 520上安装或提供数据驱动芯片。也可以在FPCB 520上安装或提供

扫描驱动芯片。

根据本发明的实施例，所述阵列基板包括屏蔽公共电极，所述屏蔽公共电极为像素

电极提供电磁干扰的屏蔽，所述电磁干扰是由施加到数据线上的电压形成的。施加

到所述屏蔽公共电极上的屏蔽公共电压与施加到数据线上的数据电压具有不同的电

平，从而通过1D方法测试所述阵列基板。

此外，在V/I测试过程中，施加到所述屏蔽公共电极上的屏蔽公共电压不同于施加

到数据线上的数据电压。

通过伪焊盘将屏蔽公共电压施加到屏蔽公共电极上，以减少导电通路的电阻，通过

所述导电通路施加屏蔽公共电压。将所述屏蔽公共电压独立于存储公共电压和公共

电压施加到屏蔽公共电极上，从而防止屏蔽公共电压的失真，例如，保持屏蔽公共

电压恒定。

因此，将恒定的屏蔽公共电压施加到屏蔽公共电极上，从而为像素提供数据电压的

屏蔽，并减少相邻像素之间的光泄漏。

对于本领于技术人员来讲，在不背离本发明的精神和范围的情况下，可以对本发明

做出各种修改和变化。因此，本发明旨在包含各种修改和变化，只要这些修改和变

化落在权利要求及其等同要件的范围内。