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2024年6月15日发(作者：)
OTA将成5G测试重要技术，NI助力5G驶入快车道
关键词： 5G测试 , OTA
在今年年初的MWC上，华为、一加等众多5G手机的问世，掀起了一股5G技术
潮流。终端应用成为5G早期的驱动力，2019年也被业界称为5G元年，当然未
来5G技术的应用不仅仅是手机，还有可能是汽车、飞机、家电、公共服务设备
等众多设备。5G将会是推动社会进步和经济发展的重要利器。
中国工业和信息化部部长苗圩表示，今年我国将进行5G商业推广，一些地区将
会发放5G临时牌照，下半年还将用上诸如5G手机、5G iPad等商业产品。政
策层面的利好，进一步带动5G从芯片到终端全产业链的发展。5G之所以能带
来广阔的应用场景，离不开一些关键技术的引入，如基于 OFDM 优化的波形和
多址接入、灵活的框架设计、大规模天线（Massive-MIMO）、毫米波技术
(mmWave)。5G设备日益复杂，必须采用全新的测试方法，来最大限度缩短产品
上市时间和减少测试成本。
大规模天线和毫米波技术的引入使得5G测试面临巨大挑战
国际标准化组织3GPP定义了5G的三大场景。eMBB指3D/超高清视频等大流量
移动宽带业务，mMTC指大规模物联网业务，URLLC指如无人驾驶、工业自动化
等需要低时延、高可靠连接的业务。其中实现eMBB的主要技术是采用Massive
MIMO有源天线阵列或毫米波技术。为了达到实现每用户10 Gbps的目标峰值速
率，5G标准增加了更多的无线频谱，扩展到了厘米和毫米波频率。
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5G NR的三大关键技术
从长期来看，5G测试比较大的挑战是由于毫米波和大规模天线技术引入使得无
线设备更加复杂集成化。NI（National Instruments）作为测试测量行业的引
领者，一直在围绕这些新技术，研发相关的测试测量解决方案。
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5G 网络通常在基站端叠加更多MIMO子系统，也就是大规模天线系统。而这样
的大规模天线给开发工程师带来的测试挑战是显而易见的，如前传接口连接的
高吞吐量、天线阵列校准、天线单元间的相互耦合、不规则的天线阵列、天线
阵列复杂，这些因素都会增加测试的难度和测试成本。
另外，毫米波一直被誉为是提升5G性能的利器，其关键优势之一是可用的大量
频谱带宽。以往，基于sub 6GHz频段的4G LTE蜂窝系统可以使用的最大带宽
是100MHz，数据速率不超过1Gbps。而在5G sub-6GHz与毫米波频段，移动应
用可以使用的最大带宽是400MHz，数据速率高达10Gbps甚至更多。以前毫米
波大多都是应用在军工领域，现在推广到商用化应用领域，测试设备需要覆盖
毫米波频段，这对在毫米波段的测试仪表的提出了新的挑战。
OTA成为5G重要测试技术
针对5G设备而言，增加的频率范围、新的AiP天线（Antenna-in-package）封
装技术和更多的天线数量使测试难度增加，还造成测试设备的成本和运单个设
备测试时间的增加。 市场上普遍认为OTA（over-the-air，空口）方法技术可
以帮助解决这些问题，且OTA对于5G设备测试至关重要。主要基于以下三点考
虑：
被测设备(DUT)的集成度大幅提升，无法使用电缆在被测设备
和测试设备之间建立物理连接，传统测试方法不适用；
毫米波频率下的信号传输损耗很高，因此需要通过波束聚焦
或波束成形来提高增益；
OTA的测试环境需要十分接近5G设备的实际使用环境，能够
最大限度保证设备的可靠性。
OTA 测试并非总是需要微波暗室
高效的OTA测试是5G部署的关键，OTA的实现涉及到众多环节。对于设计表
征、验证、合规和一致性测试来说，适当的微波暗室（消声、CATR 或混响类
型）可以提供安静的射频环境，确保设计满足所有的性能和法规要求，并具有
足够的裕量和可重复性。然而，对于批量生产来说，传统的微波暗室会占用大
量的生产空间，并增加资本支出。
为解决这些问题，市场上出现了具有 OTA 功能的 IC 测试插座，以及带有集成
天线的小型射频外壳，从而将半导体 OTA 测试功能小型化。尽管测量天线距离
DUT IC 只有几厘米，但是对于每个天线元件的远场测量来说，这个距离已经足
够。相对较小尺寸的测试插座还有助于多站点并行测试增加测试吞吐量，同时
最大限度地降低信号的功率损耗。不过，小型测试插座会妨碍整个天线阵列的
波束成形测量，这种测量的远场距离一般是 10 厘米甚至更远。
NI全新5G解决方案
如今的开发周期正在不算缩短，灵活且可扩展的测试系统对于 OTA 测试来说至
关重要。NI的软件定制测试平台与最新的 5G NR PHY 层要求保持同步，其中
包含测试宽 NR 分量载波或载波聚合信号所需的测量科技和瞬时带宽。NI 的高
带宽仪器还允许通过数字预失真技术对 DUT 进行线性化。此外，NI 平台还为
多通道测量系统提供相位相干和时间对齐扩展，以便对最新的 NR 半导体设备
进行全面测试。
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